AD9278针对低成本、低功耗、小尺寸及易于使用的应用而设计。它内置八通道的可变增益放大器(VGA)、低噪声前置放大器(LNA)、抗混叠滤波器(AAF)、12位10 MSPS至65 MSPS模数转换器(ADC)以及具有可编程相位旋转的I/Q解调器。
每个通道均具有45 dB的可变增益范围、完全差分信号路径、有源输入前置放大器终端、最大51 dB的增益以及转换速率高达65 MSPS的ADC。通道专门针对动态范围与低功耗而优化，适合要求小封装尺寸的应用。

LNA具有单端转差分增益，可以通过SPI进行选择。增益为21.3 dB时，LNA输入噪声典型值为1.3 nV/¡ÌHz；在最大增益下，所有通道的折合到输入端噪声为1.3 nV/¡ÌHz。假设噪声带宽为15 MHz且LNA增益为21.3 dB，则输入信噪比(SNR)约为88 dB。在CW多普勒模式下，各LNA输出驱动一个I/Q解调器。各解调器具有16种相位设置，可以通过SPI实现独立可编程相位旋转。

AD9278要求采用LVPECL/CMOS/LVDS兼容型采样速率时钟信号，以便充分发挥其工作性能。对于大多数应用来说，无需外部基准电压源或驱动器件。

为获得合适的LVDS串行数据速率，该ADC会自动倍乘采样速率时钟。它提供一个数据时钟(DCO±)用于在输出端捕获数据，以及一个帧时钟(FCO±)触发器用于发送新输出字节信号。

各通道可单独进入掉电模式，从而延长便携式应用的电池使用时间。利用待机模式选项可以快速上电，以便开机重启。以CW多普勒模式工作时，VGA、AAF和ADC均进入掉电模式。TGC路径的功耗与可选ADC速度功耗模式成正比。

ADC内置多种功能特性，例如可编程时钟、数据对准、生成可编程数字测试码等，可使器件的灵活性达到最佳、系统成本降至最低。数字测试码包括内置的固定码和伪随机码，以及通过串行端口接口输入的用户自定义测试码。

AD9278采用先进的BiCMOS工艺制造，提供10 mm × 10 mm、符合RoHS标准的144引脚BGA封装，额定温度范围为−40°C至+85°C工业温度范围。

优势和特点

低功耗：TGC模式下每通道88 mW，40 MSPS；
CW模式下每通道32 mW
10 mm × 10 mm、144引脚CSP-BGA封装
TGC 通道折合到输入端噪声：1.3 nV/√Hz（最大增益）
灵活的省电模式
可从低功耗待机模式快速恢复：<2 μs
过载恢复：<10 ns
折合到输入端噪声：1.25 nV/√Hz（增益 = 21.3 dB）
可编程增益：15.6 dB/17.9 dB/21.3 dB
0.1 dB 压缩：1000 mV p-p/750 mV p-p/450 mV p-p
双模式有源输入阻抗匹配
带宽(BW)：> 50 MHz
衰减器范围：−45 dB至0 dB
后置放大器增益(PGA)：21 dB/24 dB/27 dB/30 dB
线性dB增益控制
可编程二阶LPF范围：8 MHz至18 MHz
可编程HPF
信噪比（SNR）：70 dB（12位，最高65 MSPS）
串行LVDS（ANSI-644，低功耗/减少信号）
独立可编程相位旋转
每通道输出动态范围：>158 dBc/√Hz
折合到输出端SNR：153 dBc/√Hz（1 kHz偏移，−3dBFS）